直流微電阻測量的誤差來源

基于微弱直流信號的噪聲理論，外部干擾噪聲存在于環(huán)境中，并不受檢測電路控制，因此，在直流微電阻測量中，主要研究如何降低內部固有噪聲源對測量結果的影響。
在微電阻測量中，有以下幾種內部固有噪聲誤差來源，導體內部的熱噪聲會帶來溫差電勢誤差，導體間接觸噪聲會帶來接觸電勢誤差，接觸電勢和溫差電勢的共同作用產(chǎn)生熱電勢；導體和環(huán)境之間因為電子極化也會產(chǎn)生電化學電動勢誤差；而且測量電路本身也存在失調和溫差誤差。
熱電勢是微弱直流電壓測量中zui常見的誤差源，熱電勢包括接觸電勢和溫差電勢。
接觸電勢是由兩種不同的導體內部因電子密度不同而在接觸面上擴散運動造成的，并且隨著溫度變化而變化。電子測量系統(tǒng)中，存在著多種導體，如銅、金、銀、錫、鍺、碳、鉛、氧化銅等導體，則測量系統(tǒng)中勢必會存在接觸電勢。測量系統(tǒng)放大電路內部的接觸電勢的影響可采用多種技術加以消除，但是信號輸入回路的接觸電勢的影響消除的難度較大，因此應盡可能的采用同質材料進行連接。
同一種導體當其兩端溫度不同時，高溫端電子向低溫端遷移運動從而造成溫差電勢，這一現(xiàn)象又稱為湯姆遜效應。顯然，電子測量系統(tǒng)存在溫度場的分步不均現(xiàn)象：元器件內外溫度不同，同一元器件不同的區(qū)域溫度不同，所以必然存在溫差電勢。雖然電子測量系統(tǒng)內部的溫差電勢的影響可以消除，但信號輸入回路的接觸電勢的影響有時很難消除，這時，盡可能的保持測量系統(tǒng)溫度場分布均勻。
如前所述，熱電勢是由不同材料的導體接觸以及導體結點溫度的差異造成的。
由上可見，雖然銅一銅接觸所產(chǎn)生的熱電動勢很小，但如果銅質材料連接不良，并且存在氧化時，熱電勢對微弱直流信號測量的影響是相當大的 。